測(cè)試探針用鎢針有純鎢探針、錸鎢探針、碳化鎢探針等。探針材料的選擇主要依據(jù)電子測(cè)試的用途等來(lái)考慮。

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根據(jù)電子測(cè)試用途，探針可分為：
1.微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針。例如，用于晶圓測(cè)試的探測(cè)卡和探測(cè)臺(tái)均有用到鎢針。
2.光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針。
3.在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針。

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